SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
簡要描述：
SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所 可以與探針結合使用，以測量“黑色"和“非黑色"金屬基材上的涂層。電磁/渦流兩用膜厚計。根據要測量的對象，可以連接兼容的鐵質（電磁）探頭，有色金屬基體（渦流）探頭和鐵質/有色金屬基體（雙）探頭。另外，您可以根據應用和測量范圍選擇適合于測量微小碎片等的連接探針，例如高穩定性探針。除了JIS K 5600標準外，它還符合政府機關，實驗室，實驗室，各種公
產品型號：
產品時間：2023-05-21
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SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
特征
可以與探針結合使用，以測量“黑色”和“非黑色”金屬基材上的涂層。
電磁/渦流兩用膜厚計。根據要測量的對象，可以連接兼容的鐵質（電磁）探頭，有色金屬基體（渦流）探頭和鐵質/有色金屬基體（雙）探頭。
另外，您可以根據應用和測量范圍選擇適合于測量微小碎片等的連接探針，例如高穩定性探針。
除了JIS K 5600標準外，它還符合政府機關，實驗室，實驗室，各種公司，組織，內部法規，標準以及海外標準（例如ISO 2808）的標準。
內置統計功能
所有存儲數據，組，塊和分區數據都可以在LCD屏幕上統計顯示。
易于理解的指南顯示屏幕
易于理解的指南顯示屏幕
在液晶顯示屏上顯示信息。簡單易懂的操作指南。
上/下限值限制功能
可以為每條記錄的校準曲線設置一組極限值。如果測量值超出上限/下限范圍，則設定的限值會閃爍并發出警報。這對于快速確定膠片是否在控制標準規定的范圍內（例如在工廠生產過程中）很有用。
纖薄的機身設計減少了手持疲勞
與傳統的膜厚計（虛線部分）相比，它的主體細長。婦女和小手都具有出色的抓地力。
校準曲線配準功能
記錄的校準曲線數為100（9300）。測量之前，請務必進行兩點調整，“零調整”和“標準調整”。這兩個調整的組合稱為校準曲線（基本特性）。校準曲線會根據金屬基板的材料，形狀，厚度等而變化，但是您可以在注冊并選擇與特性匹配的校準曲線后立即開始測量。
大容量測量值存儲功能
數據存儲功能可實現多點測量，每天檢查數千個膜厚，一個人即可執行測量和記錄工作?？梢怨澥诹Σ⒔档蜋z查工作的成本。記憶數為40,000點。您可以工作而不必擔心剩余的內存。測量數據分為組，塊等并保存。
SWT-9300測厚儀日本三口電子研究所
主機液晶顯示項目
數據傳輸到PC
可以使用USB電纜將其連接到PC以傳輸測量數據。每次執行測量時實時傳輸。也可以一次發送存儲在存儲器中的數據。
SWT數據傳輸表
可以使用數據傳輸表將實時或內存測量數據傳輸到電子表格軟件Microsoft Excel *。（必須安裝USB傳輸驅動程序才能進行
傳輸。） 數據傳輸工作表需要Microsoft Excel 2002/2003/2007/2010中的任何一個都可以在其中運行的環境（Windows * XP / Vista / 7）。（與64Bit不兼容）
可以從Sanko Denshi實驗室的網站下載USB驅動程序和數據傳輸表。
三口電子研究所首頁
*以上組合不能保證操作。
* Microsoft Excel和Windows是Microsoft Corporation在美國的注冊商標。
應用（測量例）
| （使用電磁探針時，磁性金屬上的非磁性膜） | 使用渦流探頭時（非磁性金屬上的絕緣膜） | |
|---|---|---|
| 基礎 | 鐵，鋼，鐵素體不銹鋼 | 鋁，鋁合金，銅，奧氏體不銹鋼 |
| 涂料[繪畫] | 設備，汽車，輪船，橋梁，鋼結構等 | 鋁制品，不銹鋼室內外建筑材料，機械，水箱等 |
| 涂層[襯里] | 樹脂，焦油環氧，橡膠，搪瓷，薄板等 | 各種設備，零件，化工廠等 |
| 涂層[其他] | [電鍍]鋅，銅，鉻，錫等 | [陽極氧化膜（鋁酸鹽）]鋁制品，鋁框格，廚房用具，家用電器等 |
| 涂層[其他] | Metallicon，Parkerizing，氧化膜，噴涂膜等 |
租賃選項產品
- 渦流膜厚計探頭NFe-8
規范
身體
| 測量范圍 | 取決于連接探針 |
|---|---|
| 顯示方式 | 圖形液晶顯示屏（數據信息），帶背光功能 |
| 校正曲線校正 | 2點校準類型（零點/標準調整點） |
| 校準曲線記憶 | 100片 |
| 測量值記憶 | 40,000點 |
| 數據傳輸 | USB低功耗無線 |
| 統計功能 | 內置機身 |
| 附加功能 | 帶背光 的測量模式切換（保持/連續） 校準曲線校準值刪除 自動關閉電源（約3分鐘，帶OFF功能） 顯示分辨率切換 上下限值設置 |
| 電源供應 | AA電池x 2，AC適配器 |
| 工作溫度 | 0-40°C（無凝結） |
| 尺寸 | 72（W）x 30（H）x 156（D）毫米 |
| 重量 | 210克 |
探測
普通探頭
| 模型 | NFe-8 *選項 |
|---|---|
| 測量方式 | 渦流類型 |
| 測量范圍 | 0?8毫米 |
| 顯示分辨率 | 1μm：0至999μm0.01 mm：1至8 mm |
| 測量精度 | 0至100μm：±（1μm+指示值的2％） 101μm至8.00 mm：在指示值的±2％以內 |
| 探測 | 1點恒壓接觸式，V切 φ35×61mm |
| 測量對象 | 用于 測量相對較厚的物體， 例如鋁和銅等非磁性金屬基材上的絕緣涂層 |
SWT-9000系列探頭
| 模型 | FN-325 |
|---|---|
| 測量方式 | 用于電磁和渦流（自動基板識別） |
| 測量范圍 | 鐵基板：0至3.00毫米，非鐵基板：0至2.50毫米 |
| 顯示分辨率 | 1μm的：0?999μm（黑色和有色金屬常見） 通過切換 為0.1μm：0?400μm的（黑色和有色金屬公用） 0.5微米：400?500微米（鐵，非鐵公用） 0.01毫米：1.00?3.00毫米（鐵基質） |
| 測量精度（垂直于光滑表面測量） | 0至100μm：±1μm（鐵和非鐵金屬常見）或指示值的 ±2％以內 101μm至3.00 mm：±2％以內（鐵基板） 101μm至2.50 mm：±2％以內（有色金屬基板） |
| 探測 | 1點恒壓接觸式，V切 φ13×52mm |
| 測量對象 | 鐵基：在鋼鐵等磁性金屬基體上的涂層，襯里，噴涂，電鍍（不包括電解鎳鍍層） 非鐵基：在鋁和銅等非磁性金屬基體上的絕緣涂層對于被測物體 |